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X射線熒光分析儀在水泥生產(chǎn)中的應(yīng)用

一、儀器的配置及測量條件:
 
PW4110型Venus200順序式低功率掃描形式的X—熒光分析儀,允許分析范圍Be—U,PW2550型X射線光管,端窗采用Sc作耙材,鈹窗厚度300um,配有DELL奔騰IV計算機,循環(huán)水冷系統(tǒng),南京水泥設(shè)計院QCX控制系統(tǒng),上海盛力儀器SL201型半自動壓片機和SL301型振動磨礦機等設(shè)備。各元素測量條件見附表1。
 
表1一各元素的測量條件
元素
譜線
晶體
準直器
探測器
管壓/Kv
管流/mA
2d(nm)
PHD/LL
PHD/UL
Al
KA
LiF200
300um
流氣式
50
4
0.87420
29
76
Ca
KB
LiF200
 
300um
流氣式
50
4
0.40280
25
75
Fe
KA
LiF200
300um
流氣式
50
4
0.40280
5
75
K
KA
LiF220
300um
流氣式
50
4
0.40280
25
75
Mg
KA
LiF220
300um
封閉式
50
4
5.00000
35.
65
Na
KA
 
LiF220
300um
封閉式
50
4
5.00000
35
65
S
KA
LiF220
300um
流氣式
50
4
0.65320
26
65
Si
KA
LiF220
300um
Sc
50
4
0.87420
25
75
 
二、物料分析的誤差來源因素以及解決的方法
 
我們通過幾個月的使用和摸索,逐步掌握了影響分析數(shù)據(jù)準確和和儀器穩(wěn)定的一些因素,主要有以下幾個方面:
 
 
1、樣品的制備:
 
PANalytical 公司所提供的X射線熒光分析儀,允許樣品不受其狀態(tài)及形態(tài)的限制,可以是粉末壓片、熔片、固態(tài)、粉末及液態(tài)等。在水泥行業(yè)的應(yīng)用中,
 
可用粉未壓片及熔片制樣法。熔片雖然能消除顆粒度效應(yīng)及礦物效應(yīng),從而獲得更好的準確性。但因操作費時、成本較高而尚未被廣泛采用;粉末壓片法則操作簡單、快速,是目前國內(nèi)水泥廠的首選XRF制樣方法。我公司則采用粉磨壓片法,首先所要分析的試樣要盡可能的干燥,以提高制樣的精度。要求被測樣品要制成細度不大于80um粉末狀,樣片的直徑應(yīng)盡可能的大最好不小于32mm,物料必須有代表性,可通過連續(xù)或多點取樣,充分攪拌均勻,縮分成所需的克數(shù)以
 
備檢驗。
 
2、粉磨壓片:
 
2.1粉磨時間的確定:待測樣品必須用專用粉磨機粉磨,研磨有手動和機械振動磨兩類,用機械振動磨效率高,便于控制樣品復(fù)演性好。粉碎研磨選用一種合適的研磨器具是很重要的,特別在是在分析痕量元素時尤為重要,我公司選用得是碳化鎢磨具,這樣可以把分析誤差降到最小。粉磨細度不能大于200目(76um),經(jīng)過反復(fù)的試驗對比,我們把生熟料和各種原材料的粉磨時間確定在150s,時間過長會產(chǎn)生粘磨,短則細度達不到分析要求。
 
2.2助磨劑和粘結(jié)劑的添加:在粉磨樣品時加入適當(dāng)?shù)闹┯兄谔岣哐心バ?,并且有利于料缽的清洗。加入粘結(jié)劑是為了使樣品更好的成型,壓制成表面光滑而又不容意破裂的樣片。助磨劑和粘結(jié)劑必須是不含被測物成分的有機物,經(jīng)過分析試驗適合我公司的添加劑有:三乙純胺、酒精、石臘詳見附表2
 
表2 熒光分析制樣添加劑明細表
物料名稱
石灰石
砂巖
黏土
干法生料
熟料
硅石
粉磨稱樣量(g)
10
10
10
10.3
11
10
石臘(g)
 
0.3
 
 
0.3
0.3
三乙醇胺(滴)
2
2
2
2
2
2
酒精(滴)
1
1
1
1
1
1
 
2.3、樣品的壓片:將制備好的粉末,小心的放入模具中,用自動壓力機在一定壓力下壓制成片,X射線熒光強度與壓制樣品的壓力和樣品的顆粒大小有很大關(guān)系。我公司用的是鋼環(huán)壓片,設(shè)置壓力24t保壓時間30s,即可滿足要求。
 
2.4、制樣誤差驗證
 
按2.1、2.2選定樣片制備的條件后,對樣片制備的再現(xiàn)性進行驗證,以生料為例,用同一個生料樣充分攪拌均勻后,壓制10個樣片用熒光分析儀依次測量,分析結(jié)果統(tǒng)計見附表3
 
以生料為例同一個樣品制備10個樣片的分析結(jié)果
序號
Fe2O3
Al2O3
CaO
MgO
SiO2
K2O
Na2O
SO3
1
1.58
2.65
42.86
2.06
13.26
0.59
0.15
0.2
2
1.52
2.70
42.96
2.08
13.11
0.56
0.19
0.18
3
1.59
2.61
42.85
2.10
13.18
0.54
0.16
0.16
4
1.60
2.63
42.76
2.08
13.19
0.62
0.14
0.14
5
1.63
2.64
42.79
2.11
13.15
0.58
0.13
0.14
6
1.54
2.67
42.85
2.08
13.35
0.57
0.12
0.16
7
1.56
2.68
42.78
2.08
13.34
0.56
0.17
0.15
8
1.57
2.62
42.96
2.05
13.27
0.55
0.16
0.19
9
1.59
2.66
42.83
2.02
13.29
0.59
0.13
0.17
10
1.65
2.68
42.84
2.04
13.25
0.50
0.14
0.16
Min
1.52
2.61
42.76
2.02
13.11
0.5
0.12
0.14
Max
1.60
2.70
42.96
2.11
13.35
0.62
0.19
0.2
極差
0.08
0.09
0.20
0.09
0.24
0.12
0.07
0.06
 
表3中可以看出同一樣品制備10次測得的分析結(jié)果極差值≤允差值,認為制樣方法是可行的。
 
2.5、儀器穩(wěn)定性的效驗和準確度的測試,在分析儀使用之前必須進行此項工作。用已有準確分析結(jié)果的試樣50克,放入料缽內(nèi)(不放兩個鋼圈)運行3min后,分成四份制成壓片進行測量,測量結(jié)果見附表4
 
同一試樣混勻后分四份制片后用熒光儀的測量結(jié)果
 
序號
Fe2O3
Al2O3
CaO
MgO
SiO2
K2O
Na2O
SO3
1
1.67
2.59
42.9
2.1
13.45
0.59
0.18
0.3
2
1.64
2.55
42.88
2.08
13.4
0.58
0.17
0.24
3
1.66
2.57
42.91
2.07
13.48
0.61
0.19
0.28
4
1.63
2.54
42.8
2.11
13.53
0.62
0.16
0.22
平均
1.65
2.56
42.91
2.09
13.46
0.6
0.18
0.19
RMS
0.02
0.02
0.05
0.02
0.05
0.02
0.01
0.04
 
從表4可以看出幾組樣子誤差特別小,說明儀器的穩(wěn)定性很好。
 
2.6、建立應(yīng)用程序(標準曲線)
  
  X—熒光分析儀是一種相對測量儀器,它是通過測量已準確得知化學(xué)分析結(jié)果的標樣,由計算機所獲得的特征X射線強度數(shù)據(jù)進行一系列的數(shù)學(xué)處理,計算得出工作曲線。建立應(yīng)用程序(標準曲線)是熒光儀準確分析的基礎(chǔ),應(yīng)注意以下幾個問題:
 
(1)選取具有代表性的標準樣品。每組曲線至少要八個以上的樣品(我公司做每組曲線時至少選取10個以上的標準樣品),且要在實際生產(chǎn)所用的礦區(qū)采樣,使其分析樣品的物理性能相同,各元素含量范圍應(yīng)覆蓋實際生產(chǎn)所能達到的范圍,盡可能在生產(chǎn)控制指標的中部,以保證分析的準確性。
 
(2)準確分析標準樣品。為了最大限度消除人為誤差,標準樣一般要求用三個有三年以上分析經(jīng)驗的分析員做平行化學(xué)分析,最后取平均值,經(jīng)典的濕法化學(xué)分析是幾乎所有快速光譜技術(shù)標定的基礎(chǔ),化學(xué)分析值一定要準卻,否則一切無從談起,要絕對保證分析結(jié)果準確性,為熒光分析的標定提供準確的依據(jù)。
 
(3)建立新的應(yīng)用程序(標準曲線)時,操作規(guī)程、儀器選擇的各種參數(shù)、壓片的制樣環(huán)節(jié),環(huán)境條件等必須與分析應(yīng)用時嚴格保持一致,以減少系統(tǒng)誤差。
 
2.7、校正曲線                                                       
 
建立好應(yīng)用程序(標準曲線)后,為了能使工作曲線正常投入使用,要對曲線進行校正,使用后為了保證儀器分析的準確性,也要定期用已知化學(xué)成分的樣品(標樣)與熒光分析進行對比校正。若線性回歸不是太好,則要通過經(jīng)驗系數(shù)或是增刪標樣樣進行微幅調(diào)整,工作曲線若差距太大必須重新建立新的工作曲線。我公司從2005年3月份投產(chǎn)以來,為了保證儀器分析的準確性,我們堅持每天做一次標樣,三天與化學(xué)分析對比一次。以生料為例,對比情況見表5。
 
表5 生料熒光分析結(jié)果與化學(xué)分析結(jié)果對比
序號
類別
SiO2
Al2O3
Fe2O3
CaO
MgO
1
化學(xué)分析
13.26
2.63
1.60
42.88
2.06
熒光分析
13.10
2.62
1.58
42.76
2.00
偏差
+0.16
+0.01
+0.02
+0.12
+0.06
2
化學(xué)分析
13.40
2.58
1.56
42.94
2.12
熒光分析
13.26
2.62
1.54
42.81
2.21
偏差
+0.14
-0.04
+0.02
+0.13
-0.09
3
化學(xué)分析
13.53
2.68
1.68
43.02
2.16
熒光分析
13.65
2.66
1.63
43.20
2.10
偏差
-0.12
+0.02
+0.05
-0.18
+0.06
4
化學(xué)分析
13.22
2.50
1.54
42.80
2.03
熒光分析
13.14
2.49
1.53
42.63
2.08
偏差
+0.08
+0.01
+0.01
+0.17
-0.05
偏差絕對值平均
0.12
0.02
0.03
0.15
0.06
 
 
從表4、表5數(shù)據(jù)可知,X—熒光分析儀的穩(wěn)定性和準確性良好。X射線熒光分析儀已在我公司原材料、生料的檢驗上逐步取代了傳統(tǒng)的濕法化學(xué)分析方法,為生產(chǎn)準確及時地提供了分析結(jié)果,為穩(wěn)定生料配料、提高熟料質(zhì)量奠定了堅實的基礎(chǔ)。
 
2.8樣品分析中的注意事項:
 
2.8、1樣品制備時,其粉磨時間、添加劑、設(shè)定壓力和保壓時間必須與標定該工作曲線時的狀態(tài)嚴格一致,否則會造成粉磨粒度分布不均勻,帶來系統(tǒng)的誤差,影響分析結(jié)果。
 
2.8、2粉磨不同品種物料時,如果用同一料缽,則必須用待測樣品洗磨或是用清水把料缽洗凈,否則由于其它物料的污染會產(chǎn)生較大的誤差。
 
2.8、3樣品壓片前必須均勻布入鋼環(huán)內(nèi),不能出現(xiàn)堆積分布,否則會造成壓片密度的局部差異,影響分析結(jié)果。
 
2.8、4制好的樣片不能擦摸光潔面,也不能放在空氣中太久再測量,不然會影響測量結(jié)果。
 
2.8、5 為了保證儀器的正常運行,必須保持環(huán)境干燥潔凈,樣品壓制好后,要在不影響被測表面光潔度的前提下盡量清除干凈壓片鋼環(huán)周圍的粉塵,用吸塵器吸凈,以免帶入機內(nèi),污染測量環(huán)境,影響分析結(jié)果,損傷儀器的壽命。
 
2.8、6操作人員首先必須熟悉操作規(guī)程,否則所選的分析程序錯誤,用錯工作曲線,結(jié)果將完全錯誤。制樣壓片時的操作也會帶來不同程度的誤差,所以要求操作人員要規(guī)范操作,不定期進行抽查對比,以減少人為造成的誤差。
 
 
3結(jié)語
我公司通過這幾個月的實踐和分析應(yīng)用,對影響X—熒光分析儀檢測穩(wěn)定性和準確性的各種因素,逐一進行試驗,分析、調(diào)整,并找到了相應(yīng)的技術(shù)措施,為準確快速提供分析數(shù)據(jù)起到了應(yīng)有的作用,為生料配料控制,提供準確可靠的依據(jù)。

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